Experimental Determination of Gate-Oxide Breakdown of CMOS Transistors at Cryogenic Temperatures

Yelten M. B. (Yürütücü), YAVUZ Y., ÇAKMAK C., KARADEMİR J., PEKER E., KORKMAZ F. S.

Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje, 2020 - 2022

• Proje Türü: Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje
• Başlama Tarihi: Haziran 2020
• Bitiş Tarihi: Mayıs 2022