Metal-Oksit-Yarıiletken-Alan-Etkili-Transistörlerinde (MOSFET'lerde) Kriyojenik Sıcaklık, Işınım, Zamana Bağlı Yıpranma ve Proses Değişkenliği Etkilerinin Kapsamlı Modellenmesi


Yelten M. B. (Executive)

Project Supported by Higher Education Institutions, 2016 - 2017

  • Project Type: Project Supported by Higher Education Institutions
  • Begin Date: April 2016
  • End Date: July 2017