A rare event based yield estimation methodology for analog circuits

ODABAŞI I. Ç., Yelten M. B., AFACAN E., Baskaya F., Pusane A. E., Dündar G.

21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2018, Budapest, Macaristan, 25 - 27 Nisan 2018, ss.33-38 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/ddecs.2018.00013
  • Basıldığı Şehir: Budapest
  • Basıldığı Ülke: Macaristan
  • Sayfa Sayıları: ss.33-38
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet