Multi Resolution Wavelet Analysis for Chopped ImpulseVoltage Measurements and Feature Extraction


ÖNAL Ş. E. , KALENDERLİ Ö. , Şeker Ş. S.

IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, cilt.15, ss.893-900, 2008 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi)

  • Cilt numarası: 15 Konu: 3
  • Basım Tarihi: 2008
  • Dergi Adı: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
  • Sayfa Sayıları: ss.893-900