Multi Resolution Wavelet Analysis for Chopped ImpulseVoltage Measurements and Feature Extraction

ÖNAL Ş. E., KALENDERLİ Ö., Şeker Ş. S.

IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, cilt.15, sa.3, ss.893-900, 2008 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 15 Sayı: 3
  • Basım Tarihi: 2008
  • Dergi Adı: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.893-900
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet