Multi Resolution Wavelet Analysis for Chopped ImpulseVoltage Measurements and Feature Extraction

---

Atıf İçin Kopyala

ÖNAL Ş. E. , KALENDERLİ Ö. , Şeker Ş. S.

IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, cilt.15, sa.3, ss.893-900, 2008 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi)

• Cilt numarası: 15 Konu: 3
• Basım Tarihi: 2008
• Dergi Adı: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
• Sayfa Sayıları: ss.893-900