Atıf İçin Kopyala
Arar N. M., GAO H., Ekenel H. K., Akarun L.
2012 IEEE 5th International Conference on Biometrics: Theory, Applications and Systems, BTAS 2012, Arlington, VA, Amerika Birleşik Devletleri, 23 - 27 Eylül 2012, ss.297-302
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Doi Numarası:
10.1109/btas.2012.6374592
-
Basıldığı Şehir:
Arlington, VA
-
Basıldığı Ülke:
Amerika Birleşik Devletleri
-
Sayfa Sayıları:
ss.297-302
-
İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli:
Evet