A PULSED INTERFACE-PROBING TECHNIQUE FOR MOS INTERFACE CHARACTERIZATION AT MID-GAP LEVELS


CILINGIROGLU U.

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, cilt.35, ss.2391-2396, 1988 (SCI İndekslerine Giren Dergi) identifier identifier

  • Cilt numarası: 35 Konu: 12
  • Basım Tarihi: 1988
  • Doi Numarası: 10.1109/16.8820
  • Dergi Adı: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
  • Sayfa Sayıları: ss.2391-2396