A PULSED INTERFACE-PROBING TECHNIQUE FOR MOS INTERFACE CHARACTERIZATION AT MID-GAP LEVELS
Atıf İçin Kopyala
CILINGIROGLU U.
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, cilt.35, ss.2391-2396, 1988 (SCI İndekslerine Giren Dergi)
-
Cilt numarası:
35
Konu:
12
-
Basım Tarihi:
1988
-
Doi Numarası:
10.1109/16.8820
-
Dergi Adı:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
-
Sayfa Sayıları:
ss.2391-2396