A PULSED INTERFACE-PROBING TECHNIQUE FOR MOS INTERFACE CHARACTERIZATION AT MID-GAP LEVELS

CILINGIROGLU U.

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, cilt.35, sa.12, ss.2391-2396, 1988 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 35 Sayı: 12
  • Basım Tarihi: 1988
  • Doi Numarası: 10.1109/16.8820
  • Dergi Adı: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.2391-2396
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır