Development of SAMPLE Scanning High Speed AFM operating at 1,000 Lines/s 15µm x 15µm x 3µm

---

Atıf İçin Kopyala

ÇELİK Ü., Uysallı Y., Kehribar İ., ÇELİK K., ÖZER H. Ö., ORAL A.

The 19th InternationalScanning Probe Microscopy Conference KYOTO JAPAN, 17 - 19 Mayıs 2017

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet