Dione an integrated measurement and defect prediction solution


Caglayan B., TOSUN A., Gul C., Ayse B., Aytac T., Turhan B.

Proceedings of the ACM SIGSOFT 20th International Symposium on the Foundations of Software Engineering - FSE ’xx12, Cary, North Carolina, 11 - 16 Kasım 2012

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1145/2393596.2393619
  • Basıldığı Şehir: Cary, North Carolina
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır