Atıf İçin Kopyala
Emeršic Z., Štepec D., Štruc V., Peer P., George A., Ahmad A., ...Daha Fazla
International Joint Conference on Biometrics (IJCB), Denver, Amerika Birleşik Devletleri, 1 - 04 Ekim 2017, ss.1-13
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Basıldığı Şehir:
Denver
-
Basıldığı Ülke:
Amerika Birleşik Devletleri
-
Sayfa Sayıları:
ss.1-13