A fast and robust scan matching algorithm based on ML NDT and feature extraction


Ulas C., TEMELTAŞ H.

2011 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation, Beijing, China, 7 - 10 Ağustos 2011, ss.1751-1756

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/icma.2011.5986244
  • Basıldığı Şehir: Beijing, China
  • Sayfa Sayıları: ss.1751-1756