A Computer Vision System to Localize and Classify Wastes on the Streets


Rad M. S. , von Kenel A., Droux A., ois Tièche ., Ouerhani N., Ekenel H. K. , ...Daha Fazla

11th International Conference on Computer Vision Systems (ICVS), Shenzhen, Çin, 10 Temmuz 2017, ss.1-7

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Shenzhen
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.1-7