A Computer Vision System to Localize and Classify Wastes on the Streets


Rad M. S., von Kenel A., Droux A., ois Tièche ., Ouerhani N., Ekenel H. K., ...Daha Fazla

11th International Conference on Computer Vision Systems (ICVS), Shenzhen, Çin, 10 Temmuz 2017, ss.1-7

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Shenzhen
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.1-7
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet