How image degradations affect deep CNN-based Face recognition?


KARAHAN Ş., YILDIRIM M. K., KIRTAÇ K., RENDE F. Ş., BÜTÜN G., Ekenel H. K.

15th International Conference of the Biometrics Special Interest Group, BIOSIG 2016, Darmstadt, Almanya, 21 - 23 Eylül 2016 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/biosig.2016.7736924
  • Basıldığı Şehir: Darmstadt
  • Basıldığı Ülke: Almanya
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet