Multi-resolution local appearance-based face verification

Atıf İçin Kopyala

GAO H., Ekenel H. K., FISCHER M., STIEFELHAGEN R.

2010 20th International Conference on Pattern Recognition, ICPR 2010, İstanbul, Türkiye, 23 - 26 Ağustos 2010, ss.1501-1504

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Doi Numarası: 10.1109/icpr.2010.371
• Basıldığı Şehir: İstanbul
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.1501-1504
• İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır