Atıf İçin Kopyala
Trabzon L., awadelkarim o.
MICROELECTRONICS RELIABILITY, cilt.38, sa.4, ss.651-657, 1998 (SCI-Expanded)
-
Yayın Türü:
Makale / Tam Makale
-
Cilt numarası:
38
Sayı:
4
-
Basım Tarihi:
1998
-
Dergi Adı:
MICROELECTRONICS RELIABILITY
-
Derginin Tarandığı İndeksler:
Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
-
Sayfa Sayıları:
ss.651-657
-
İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli:
Evet