Damage to n MOSFETs from electrical stress relationship to processing damage and impact on device relaibility

---

Atıf İçin Kopyala

Trabzon L. , awadelkarim o.

MICROELECTRONICS RELIABILITY, cilt.38, sa.4, ss.651-657, 1998 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi)

• Cilt numarası: 38 Konu: 4
• Basım Tarihi: 1998
• Dergi Adı: MICROELECTRONICS RELIABILITY
• Sayfa Sayıları: ss.651-657