Damage to n MOSFETs from electrical stress relationship to processing damage and impact on device relaibility

Trabzon L. , awadelkarim o.

MICROELECTRONICS RELIABILITY, cilt.38, ss.651-657, 1998 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi)

  • Cilt numarası: 38 Konu: 4
  • Basım Tarihi: 1998
  • Dergi Adı: MICROELECTRONICS RELIABILITY
  • Sayfa Sayıları: ss.651-657