Face alignment by minimizing the closest classification distance

Ekenel H. K., STIEFELHAGEN R.

IEEE 3rd International Conference on Biometrics: Theory, Applications and Systems, BTAS 2009, Washington, Amerika Birleşik Devletleri, 28 - 30 Eylül 2009 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/btas.2009.5339076
  • Basıldığı Şehir: Washington
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır