The Effects of Interlayer Dıelectric Deposition and Processing on the Reliability of n channel Transistors


Trabzon L., Awadelkarim O., Werking J.

SOLID-STATE ELECTRONICS, cilt.42, sa.11, ss.2031-2037, 1998 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 42 Sayı: 11
  • Basım Tarihi: 1998
  • Dergi Adı: SOLID-STATE ELECTRONICS
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.2031-2037
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet