Suspect identification based on descriptive facial attributes

Atıf İçin Kopyala

Klare B. F., Klum S., Klontz J. C., Taborsky E., Akgül T., Jain A. K.

2nd IEEE/IAPR International Joint Conference on Biometrics, IJCB 2014, Florida, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Eylül - 02 Ekim 2014

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Doi Numarası: 10.1109/btas.2014.6996255
• Basıldığı Şehir: Florida
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet