Atıf İçin Kopyala
Klare B. F. , Klum S., Klontz J. C. , Taborsky E., Akgül T. , Jain A. K.
2nd IEEE/IAPR International Joint Conference on Biometrics, IJCB 2014, Florida, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Eylül - 02 Ekim 2014
