Reducing false alarms in software defect prediction by decision threshold optimization

TOSUN A., Bener A.

2009 3rd International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement, Lake Buena Vista, FL, USA, 15 - 16 Ekim 2009

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/esem.2009.5316006
  • Basıldığı Şehir: Lake Buena Vista, FL, USA
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır