RESIDUAL STRESS AND MICROSTRUCTURE OF YSZ BUFFER LAYERS FOR YBCO COATED CONDUCTOR


BULUT O., Dönmez A., BAYTAK T., Tosun M., İPEK C., ATAOĞLU Ş., ...Daha Fazla

20th International Research/Expert Conference”Trends in the Development of Machinery and Associated Technology” TMT2016, 24 Eylül - 01 Ekim 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet