Investigation of warpage behavior of single crystal silicon on a silicon -adhesive -ceramicintegrated structure at cryogenic temperatures

Can Baloǧlu E., Özyurt T. O., DURSUNKAYA Z.

IMAPS 12th International Conference and Exhibition on Device Packaging, Arizona, Amerika Birleşik Devletleri, 14 - 17 Mart 2016 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası:
  • Basıldığı Şehir: Arizona
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır