Atıf İçin Kopyala
Yaman D., Eyiokur F. İ., Sezgin N., Ekenel H. K.
6th IAPR/IEEE International Workshop on Biometrics and Forensics, Sassari, İtalya, 7 - 08 Haziran 2018, ss.1-7
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Basıldığı Şehir:
Sassari
-
Basıldığı Ülke:
İtalya
-
Sayfa Sayıları:
ss.1-7
-
İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli:
Evet