A GENERAL-MODEL FOR INTERFACE-TRAP CHARGE-PUMPING EFFECTS IN MOS DEVICES

CILINGIROGLU U.

SOLID-STATE ELECTRONICS, cilt.28, sa.11, ss.1127-1141, 1985 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 28 Sayı: 11
  • Basım Tarihi: 1985
  • Doi Numarası: 10.1016/0038-1101(85)90194-7
  • Dergi Adı: SOLID-STATE ELECTRONICS
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.1127-1141
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır