A GENERAL-MODEL FOR INTERFACE-TRAP CHARGE-PUMPING EFFECTS IN MOS DEVICES

---

Atıf İçin Kopyala

CILINGIROGLU U.

SOLID-STATE ELECTRONICS, cilt.28, ss.1127-1141, 1985 (SCI İndekslerine Giren Dergi)

• Cilt numarası: 28 Konu: 11
• Basım Tarihi: 1985
• Doi Numarası: 10.1016/0038-1101(85)90194-7
• Dergi Adı: SOLID-STATE ELECTRONICS
• Sayfa Sayıları: ss.1127-1141