Atıf İçin Kopyala
Hartavi A. E., Uygan I. M. C., Sezer V., ACARMAN T., Güvenç L., Kiliç V., ...Daha Fazla
2008 IEEE International Conference on Vehicular Electronics and Safety, ICVES 2008, Columbus, OH, Amerika Birleşik Devletleri, 22 - 24 Eylül 2008, ss.151-156
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Doi Numarası:
10.1109/icves.2008.4640910
-
Basıldığı Şehir:
Columbus, OH
-
Basıldığı Ülke:
Amerika Birleşik Devletleri
-
Sayfa Sayıları:
ss.151-156
-
İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli:
Evet