Non parametric Bayesian control chart for Chemical Mechanical Planarization CMP Process Monitoring


BEYCA Ö. F.

INFORMS World Conference, Phoenix, AZ, 2012, 01 Ekim 2012

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet