Effect of Temperature and Film Thickness onResidual Stress and Microstructure of Er doped ZnO Thin Films


İPEK C., TOSUN M., BAYTAK T., BULUT O., DÖNMEZ A., ALPHAN M. C., ...Daha Fazla

Inernational Conference on Condensed Matter and Materials Science ICCMMS-2017, 11 - 15 Ekim 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet