A fast and robust scan matching algorithm based on feature dependent sampling


Ulas C., TEMELTAŞ H.

2011 9th IEEE International Conference on Control and Automation (ICCA), Santiago, Chile, 19 - 21 Aralık 2011, ss.124-129

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/icca.2011.6137983
  • Basıldığı Şehir: Santiago, Chile
  • Sayfa Sayıları: ss.124-129
  • İstanbul Teknik Üniversitesi Adresli: Evet