CHARACTERIZATION AND MODELING OF NEGATIVE-BIASTEMPERATURE INSTABILITY IN 40 NM CMOS TECHNOLOGYTHROUGH LONG SHORT-TERM MEMORY (LSTM) NETWORKS

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: İstanbul Teknik Üniversitesi, Elektrik-Elektronik, Elektronik Ve Haberleşme Mühendisliği, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2023

Tezin Dili: İngilizce

Öğrenci: FİKRET BAŞAR GENCER

Danışman: Mustafa Berke Yelten