A rare event based yield estimation methodology for analog circuits

ODABAŞI I. Ç. , Yelten M. B. , AFACAN E., Baskaya F., Pusane A. E. , Dündar G.

21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2018, Budapest, Macaristan, 25 - 27 Nisan 2018, ss.33-38 identifier

  • Doi Numarası: 10.1109/ddecs.2018.00013
  • Basıldığı Şehir: Budapest
  • Basıldığı Ülke: Macaristan
  • Sayfa Sayıları: ss.33-38